Микроскоп FIB/SEM - JIB-4700F - Jeol - для лабораторий / 3D / для письменного стола
62122-15: Verios 460 XНR SEM Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов - Производители, поставщики и поверители